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把6.4 g Na2CO3和NaHCO3组成的固体混合物溶于水配成50 mL溶液...

6.4 g Na2CO3NaHCO3组成的固体混合物溶于水配成50 mL溶液,其中c(Na+)=1.6mol·L-1。若把等质量的固体混合物加热至恒重,残留固体的质量是

A. 2.12 g    B. 4.24 g    C. 3.18 g    D. 5.28 g

 

B 【解析】 固体混合物加热至恒重时,剩余固体为Na2CO3,500mL溶液,其中c(Na+)═1.6mol•L-1;则n(Na+)═0.05L×1.6mol•L-1=0.08mol,n(Na2CO3)=0.04mol, m(Na2CO3)=0.04mol×106g/mol=4.24g,故选B。  
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考点分析:
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下列实验操作所用仪器合理的是 (  )

A. 用广泛pH试纸测得Na2CO3溶液的pH10.5

B. 10mL量筒量取5.20mL盐酸

C. 用托盘天平称取25.20gNaCl

D. 25mL的酸式滴定管量取14.80mL KMnO4溶液

 

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下列各离子组在指定的溶液中一定能大量共存的是 (   )

常温在C(H+)/C(OH-)= 10-10溶液中:K+Na+CH3COO-SO42

常温pH=11的溶液中:CO32Na+AlO2NO3

水电离出的H+浓度c(H+)=1012mol•L1的溶液中:ClNO3Na+S2O32

使甲基橙变红色的溶液中:Fe3+NO3Na+SO42

A. ①②③    B. ①②④    C. ②③④    D. ①③④

 

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NA为阿伏加德罗常数的值,下列叙述错误的是

A. 14g硅原子的二氧化硅晶体中含有的硅氧键数目为2NA

B. 3.9g Na2O2晶体中含有0.2NA个离子

C. 常温常压下,5g D2O含有的质子数、电子数、中子数均为2.5NA

D. 3mol H21mol N2在一定条件下反应所得混合气体分子数大于2NA

 

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在半导体工业中,有一道工序叫烧氢。烧氢的工艺流程如图所示。

工作时,是将石英管D出口处氢气点燃。半导体硅片、焊片和金属零件从石英管口送入加热区,在氢气还原气氛中加热使焊片熔化,将单晶硅与金属零件焊接在一起。焊接后再将零件拉至冷却区,冷却后取出。烧氢工艺中的氢气纯度要求极高,工业氢气虽含氢量达99.9%,但仍含有极微量的水蒸气和氧气,所以点燃氢气前应检验氢气的纯度。试回答下列问题:

1)装置B的作用是________B中发生反应的化学方程式是________

2)装置C中的物质是________C的作用是________

3)点燃氢气前将E(带导管胶塞)接在D出口处,目的是________

4)装置A是安全瓶,可以防止氢气燃烧回火,引起爆炸,其中填充大量纯铜屑的作用是________

 

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现有含有少量NaClNa2SO4Na2CO3等杂质的NaNO3溶液,选择适当的试剂除去杂质,得到纯净的NaNO3固体,实验流程如下图所示。

1)沉淀A的主要成分是___________________________(填化学式)。

2①②③中均进行的分离操作是_______________

3)溶液3经过处理可以得到NaNO3固体,溶液3中肯定含有的杂质是__________,为了除去杂质,可向溶液3中加入适量的______________

4)实验探究小组在实验中需要用到456 mL1 mol•L-1HNO3溶液,但是在实验室中只发现一瓶8 mol•L-1HNO3溶液,该小组用8mol•L-1HNO3溶液配制所需溶液。

实验中所需的玻璃仪器包括_________________mL量筒、烧杯、__________、胶头滴管等。

该实验中需要量取8mol•L-1HNO3溶液________mL

下列实验操作中导致配制的溶液浓度偏高的是_____________

A.8mol•L-1HNO3溶液溶液时仰视刻度线

B.量取用的量筒水洗后未进行任何操作

C. 8mol•L-1HNO3溶液从量筒转移至烧杯后用水洗涤量筒并全部转移至烧杯

D.定容时仰视刻度线

E.定容后,将容量瓶振荡摇匀后,发现液面低于刻度线,未进行任何操作

(5)某同学转移溶液的操作如图所示,该同学操作中的错误是______________________________________。容量瓶的刻度线标在比较细的瓶颈之上的原因是___________

A.为了美观       B.为了统一标准         C.为了提高准确度        D.方便刻画

 

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